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課程名稱 |
積體電路測試
VLSI TESTING |
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開課學期 |
95-1 |
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授課對象 |
電機資訊學院 電機工程學研究所 |
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授課教師 |
李建模 |
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課號 |
EEE5001 |
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課程識別碼 |
943EU0010 |
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班次 |
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學分 |
3 |
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全/半年 |
半年 |
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必/選修 |
選修 |
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上課時間 |
星期三2,3,4(9:10~12:10) |
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上課地點 |
電二225 |
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備註 |
本課程以英語授課。
總人數上限：80人 |
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Ceiba 課程網頁 |
http://ceiba.ntu.edu.tw/951_VLSItesting |
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課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
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課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
本課程介紹數位�類比積體電路測試之觀念及技術，適合對VLSI設計與測試有興趣的同學修習。整個課程分為以下五大部份:1. 積體電路錯誤模型及模擬 (VLSI fault modeling & simulation)2. 自動測試圖樣產生 (Automatic test pattern generation)3. 可測試性設計 (Design-for-testability)4. 系統晶片測試 (System-on-Chip testing)5. 類比混模電路測試 (Analog/mixed-signal testing) |
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課程目標 |
Basic knowledge about digital circuit testing. |
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課程要求 |
預修課程:
交換電路與邏輯設計（or equivalent）
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預期每週課後學習時數 |
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Office Hours |
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指定閱讀 |
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參考書目 |
1. Wang, Wu and Wen, |
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評量方式
(僅供參考) |
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